10GHzクラスのデバイス・モジュールの測定に必要な高速の光・電気信号発生器、サンプリングオシロスコープを導入済みです。IC設計だけでなく、試作デバイスの測定・評価まで含めたサポートが可能です。
・12.5Gbps パターンジェネレータ（Anritsu MP1761C）
・12.5Gbps エラーレート測定機（Anritsu MP1762C）
・20GHz サンプリングオシロスコープ（Agilent 86100A）
・光パワーメータ（Agilent 81632A）
・2.5Gbps 光源（BCP MODEL 420B）
・1.5Gbps O/Eコンバータ（BCP MODEL 310B）
・光測定用プラットフォーム（10Gbps光源＆光アッテネータ：JDS Uniphase）
・20GHz スペクトラムアナライザ（Anritsu MS2665C）
高周波アナログIC・デバイスの周波数特性評価を行うため、20GHzまでの光信号・電気測定が可能な光コンポーネントアナライザを導入しています。オン・ウエハー・プロービングにより、デバイスの周波数特性を正確に評価することができます。
・20GHz 光コンポーネントアナライザ（Agilent 8703B）
・ウエハープローバ
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測定・評価設備
